Микроскоп лазерный сканирующий TIRF 3, система полного внутреннего отражения, Zeiss
- Производитель
- Zeiss
Система предназначена для наблюдения за процессами, происходящими на поверхности клетки. Полное отражение внефокусного света позволяет получать изображения клеточнои? мембраны с непревзои?денным разрешением.
Области применения: изучение быстродвижущихся структур, исследование трансмембранного переноса (в том числе транспорта кальция), FRET.
Система <>
Флуоресценция полного внутреннего отражения с использованием лазеров в качестве источников легко сочетается со всеми известными светлопольными методами контрастирования при обеспечении надежной лазерной безопасности.
Система TIRF 3 зарекомендовала себя в определении областей клеточной адгезии с высокой четкостью и разрешением, визуализации энодо- и экзоцитоза везикул с максимальной быстротой, детекции отдельных молекул с высокой контрастностью при полном подавлении фона, а также наблюдении межклеточных взаимодействий с высокой чувствительностью.
Технические характеристики:
- штативы - инвертированный микроскоп Axio Observer Z1, D1,,
- ручной или моторизованный слайдер для отклонения лазерного луча с точностью изменения угла 0,1
- специально разработанная апохроматическая оптика слайдера гарантирует высокий контраст и четкость изображения,
- лазерные линии - 405 нм (50 мВт), 488 нм (100 мВт и 20 мВт), 532 нм (75 мВт и 20 мВт), 561 нм (40 мВт / 20 мВт), 635 нм (30 мВт),
- специализированные объективы - ?Plan-Fluar 100x/1.45 Oil (угол TIRF до 72), ?Plan-Apochromat 100x/1.46 Oil (угол TIRF до 73,2),
- чувствительные камеры, высокоэффективные мультилинейные светофильтры, пьезорегулируемое изменение угла лазерного луча - позволяют исследовать быстротекущие динамические процессы, например – трансмембраннй перенос,
- Полное описание
- Комментарии